基于随机超分辨率散斑的超材料辅助照明纳米显微术

       结构照明显微镜(SIM)是一种宽视场技术，在捕获图像的同时，一系列照明图案被生成并叠加到样本上，然后可以通过使用重建算法获得衍射极限之外的图像。是最强大和最通用的光学超分辨率技术之一。与其他超分辨率成像方法相比，它在高时间分辨率、低光子损伤的宽视场成像中显示出独特的优势，因此最近吸引了更多的关注。然而，与衍射极限相比，传统的SIM仅具有大约2倍的空间分辨率提高，这是这一有前途的技术的主要瓶颈。

       近日，来自美国加州大学圣地亚哥分校的Yeon Ui Lee、Junxiang Zhao和Qian Ma等人提出并实验性地演示了一种易于实现、低成本的方法来扩展SIM的分辨率，称为散斑超材料辅助照明纳米技术（speckle-MAIN）。引入超材料结构，在近场产生具有改善的空间频率的类散斑亚衍射极限照明图案。这种模式类似于传统的模拟模式，然后被用来激发表面上的物体。他们证明speckle-MAIN可以将分辨率降低到40 nm及以上。该散斑成像技术代表了一种新的超分辨率技术，在生物成像和表面表征方面有着重要的应用。相关研究工作发表在《Nature Communications》上。（詹若男）

       文章链接：Yeon Ui Lee, Junxiang Zhao, Qian Ma et al. metamaterial assisted illumination nanoscopy via random super-resolution speckles. Nature Communications (2021) 12:1559 https://doi.org/10.1038/s41467-021-21835-8